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久保 友明*; 大谷 栄治*; 加藤 工*; 浦川 啓*; 鈴木 昭夫*; 神部 祐一*; 舟越 賢一*; 内海 渉; 藤野 清志*
Geophysical Research Letters, 27(6), p.807 - 810, 2000/03
被引用回数:33 パーセンタイル:61.94(Geosciences, Multidisciplinary)放射光を用いたX線回折の手段により、MgSiOのポストスピネル転移のカイネティクス研究を行った。MgSiOスピネル相がペロフスカイトへ転移する前に、SiOスティショバイト相あるいはイルメナイトが中間層として出現することを見出した。また、ポストスピネル相転移直後の粒径は過圧力によって大きく変化することがわかった。下部マントルへ潜り込むスラブの粘性とこの粒サイズ変化の関連について考察した。